廣皓天高低溫試驗(yàn)箱助力芯片企業(yè)提升產(chǎn)品可靠性

更新時(shí)間：2025-07-17

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在半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)快速發(fā)展的當(dāng)下，芯片產(chǎn)品的可靠性直接決定電子設(shè)備的性能與壽命。近日，廣皓天高低溫試驗(yàn)箱憑借精準(zhǔn)的溫控能力和穩(wěn)定的運(yùn)行表現(xiàn)，成功助力多家芯片企業(yè)完成產(chǎn)品可靠性測試，為芯片質(zhì)量提升提供了關(guān)鍵保障。

芯片作為電子設(shè)備的核心部件，需在各種復(fù)雜溫度環(huán)境下保持穩(wěn)定運(yùn)行。從消費(fèi)電子到工業(yè)控制，從汽車電子到航空航天，不同應(yīng)用場景對芯片的高低溫耐受性提出了嚴(yán)苛要求。高低溫試驗(yàn)作為驗(yàn)證芯片可靠性的重要手段，能有效暴露芯片在溫度環(huán)境下的潛在缺陷，為產(chǎn)品優(yōu)化提供數(shù)據(jù)支撐。

廣皓天此次投入應(yīng)用的高低溫試驗(yàn)箱展現(xiàn)了強(qiáng)大的技術(shù)實(shí)力。該設(shè)備溫度控制范圍覆蓋 - 60℃至 180℃，可精準(zhǔn)模擬從極寒到高溫的各種環(huán)境條件。其采用的進(jìn)口壓縮機(jī)和蒸發(fā)器組件，確保了溫度調(diào)節(jié)的快速性與穩(wěn)定性，溫度變化速率可達(dá) 10℃/min。設(shè)備搭載的 7 英寸觸摸屏控制系統(tǒng)，支持多段程序編輯，可預(yù)設(shè) 50 組測試方案，滿足芯片在不同測試階段的需求。

廣皓天高低溫試驗(yàn)箱助力芯片企業(yè)提升產(chǎn)品可靠性

在與某芯片設(shè)計(jì)企業(yè)的合作中，廣皓天針對車規(guī)級 MCU 芯片定制了專項(xiàng)測試方案。測試過程中，芯片樣品在試驗(yàn)箱內(nèi)經(jīng)歷了 - 40℃低溫存儲(chǔ)、125℃高溫工作、-40℃至 125℃溫度循環(huán)等多輪嚴(yán)苛測試。其中溫度循環(huán)測試?yán)塾?jì)達(dá) 1000 次，持續(xù)監(jiān)測芯片的電性能參數(shù)、封裝完整性及功能穩(wěn)定性。

測試結(jié)果顯示，通過廣皓天高低溫試驗(yàn)箱測試的芯片產(chǎn)品，在溫度環(huán)境下的性能衰減率降低了 20%，早期失效風(fēng)險(xiǎn)大幅下降。該芯片企業(yè)研發(fā)負(fù)責(zé)人表示，廣皓天試驗(yàn)箱提供的精準(zhǔn)測試數(shù)據(jù)，幫助企業(yè)快速定位了芯片設(shè)計(jì)中的薄弱環(huán)節(jié)，使產(chǎn)品整改周期縮短了 30%。

廣皓天技術(shù)團(tuán)隊(duì)還為芯片企業(yè)提供了全程技術(shù)支持，從測試方案設(shè)計(jì)到數(shù)據(jù)解讀分析，形成了完整的服務(wù)閉環(huán)。設(shè)備內(nèi)置的數(shù)據(jù)分析系統(tǒng)可自動(dòng)生成溫度曲線報(bào)告和性能變化圖表，為芯片可靠性評估提供直觀依據(jù)。

此次合作的成功，不僅體現(xiàn)了廣皓天在環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備領(lǐng)域的技術(shù)積累，更彰顯了其對半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)發(fā)展的深度賦能。未來，廣皓天將持續(xù)優(yōu)化高低溫試驗(yàn)箱的性能，推出更貼合芯片測試需求的定制化解決方案，助力我國半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)高質(zhì)量發(fā)展，為芯片產(chǎn)品可靠性提升貢獻(xiàn)更多力量。